覆層測(cè)厚儀是新研發(fā)的新產(chǎn)品，覆層測(cè)厚儀與之前涂層測(cè)厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn)：

  1. 測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它TT系列快6倍；

  2. 精度高 ：產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類(lèi).比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；

  3. 穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性?xún)?yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；

  4. 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文；

   對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層（coating）。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

   覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)熒光法、β射線(xiàn)反向散射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。