- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀
- 產(chǎn)品型號：
- 產(chǎn)品展商：德國EPK
- 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
產(chǎn)品描述
功能
|
型號
|
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
|
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
|
|
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
|
1
|
1
|
10
|
99
|
|
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值)
|
-
|
1
|
10
|
99
|
|
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)
|
-
|
1
|
500
|
500
|
|
數(shù)據(jù)總量
|
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
|
MINITEST統(tǒng)計計算功能
|
|
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
|
-
|
-
|
-
|
√
|
|
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
其他功能
|
|
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
利用計算機進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
補償一個常數(shù)(Offset)
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
更換電池是存儲數(shù)值
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
設(shè)置極限值
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
公英制轉(zhuǎn)換
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
|
-
|
-
|
√
|
√
|
|
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送
|
√
|
√
|
√
|
√
|
|
組內(nèi)單值延遲顯示
|
-
|
√
|
√
|
√
|
|
連續(xù)測量模式中顯示*小值
|
√
|
√
|
√
|
√
|
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
|
探頭
|
量程
|
低端
分辨率
|
誤差
|
*小曲率
半徑(凸/凹)
|
*小測量
區(qū)域直徑
|
*小基
體厚度
|
探頭尺寸
|
|
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%+0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%+10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%+10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%+50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%+0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%+25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%+50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%+0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%+1μm)
|
平面
|
7mm
|
無限制
|
φ17x80mm
|
|
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面
|
30mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ21x89mm
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
|
|
注：
|
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
|
